Semiconductor Process Reliability in Practice (okładka  twarda)

Sprzedaje empik.com : 893,99 zł

893,99 zł
Odbiór w salonie 0 zł
Aktywuj dodatkowe korzyści
Darmowe punkty odbioru
Darmowy kurier
Produkt u dostawcy
Wysyłamy w 9-10 dni rob.

Każdy sprzedawca w empik.com jest przedsiębiorcą. Wszystkie obowiązki związane z umową sprzedaży ciążą na sprzedawcy.

Potrzebujesz pomocy w zamówieniu?

Zadzwoń
Dodaj do listy

Dodaj ten produkt do jednej z utworzonych przez Ciebie list i zachowaj go na później.

Co-written by experts in the field, Semiconductor Process Reliability in Practice contains detailed descriptions and analyses of reliability and qualification for semiconductor device manufacturing and discusses the underlying physics and theory. The book covers initial specification definition, test structure design, analysis of test structure data, and final qualification of the process. Real-world examples of test structure designs to qualify front-end-of-line devices and back-end-of-line interconnects are provided in this practical, comprehensive guide.

Coverage includes:

  • Basic device physics
  • Process flow for MOS manufacturing
  • Measurements useful for device reliability characterization
  • Hot carrier injection
  • Gate-oxide integrity (GOI) and time-dependentdielectric breakdown (TDDB)
  • Negative bias temperature instability
  • Plasma-induced damage
  • Electrostatic discharge protection of integrated circuits
  • Electromigration
  • Stress migration
  • Intermetal dielectric breakdown

ID produktu: 1157657710
Tytuł: Semiconductor Process Reliability in Practice
Autor: Gan Zhenghao , Wong Waisum , Liou Juin J.
Wydawca: Mcgraw Hill Book Co
Język wydania: english
Ilość stron: 605
Okładka: twarda
Wymiary [mm]: 33 x 229 x 152
Indeks: 55208321
Brak
ocen
5
0
4
0
3
0
2
0
1
0
Oceń:
Dodając recenzję produktu, akceptujesz nasz Regulamin.
Prezentowane dane dotyczą zamówień dostarczanych i sprzedawanych przez empik.

Klienci, których interesował ten produkt, oglądali też

Podobne do ostatnio oglądanego